Statistik & Hypothesen
DoE & Datenanalyse
Weibull & Zuverlässigkt
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Systemanalyse
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Programmbeschreibung
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Programmbeschreibung
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Programmbeschreibung
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Programmbeschreibung
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Anderson-Darling-Test
ANOM / ANOVA
Chi²-Tests
Clusteranalyse
Epps-Pulley Test
Exakter Test nach Fisher
Fehlerfortplanzungsgesetz
F-Test
Häufigkeitsgruppen
Hypothesentests
Jarque-Bera Test
Kolmogoroff-Smirnow-Test
Normalverteilung
Shapiro-Wilk Tes
t
t-Test
u-Test
Messsystem & Prozessf.
Prozessfähigkeit
Maschinenfähigkeit
Messmittelfähigkeit
Regelkarten
Toleranzrechnung /
-Simulation
Plackett-Burman-Versuchspl.
Box-Cox
Boxplot
CCC, CCD, CCF
Definitive Screening Designs
Devianz-Test
D-Optimal
Diskrete Regression
Komponententausch
Lack of Fit
Levenberg-Marquardt
Logit-Modell
Mischungspläne
Multiple Regression
Multi-Variations-Karte
Multivariate Regelkarten
Neuronale-Netze
Normieren
Optimierung
Orthogonalität
Paarweiser Vergleich
Partial-Least-Square
Percentil-Methode
Power-Funktion
Prozessdaten Toleranzsimul
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p-Value
Q²-Maß
Signal-Rausch-Verhältnis
SixSigma
Standardisieren
Stichprobenumfang
Taguchi
Teilfaktorieller Versuchsplan
Varianzanalyse
Vergleich Alt gegen Neu
Versuchsplanung
Vollfaktorieller Versuchsplan
Wald-Test
Wiederholbarkeit
Wunschfunktion
Zentralpunkte
Zentral zusammengesetzt
Arrhenius-Modell
Anwärter-Prognose
Feldausfälle
Aufbereitung der Daten
Ausfallrate
Ausfallfreie Zeit to
Belastungstestmatrix
Betriebsfestigkeit
Coffin-Manson-Modell
Erwartungswert
Exponentialansatz
HALT & HASS & HASA
Interpretation b
Intervallzensierte Daten
Kurvenfunktion (3-parametrig)
Laufstreckenverteilung
Lebensdauerversuche
Life-Cycle-Costs
Lognormalverteilung
Mindestzuverlässigkeit
Mindestzuverl. mit Ausfällen
Mittelwert
Monte-Carlo-Methode (Simul.)
Nichtlineare Weibull-Verläufe
MTTF/MTBF
Parameterbestimmung
Prognose unvollständige Daten
Raffungstests
Schichtlinien
Standardabweichung
Success Run Testing
Sudden-Death-Testing
Systemzuverlässigkeit
t10, t50, B10
Teileauswertung
Temperaturabhängigkeit
Test auf Weibull-Verteilung
Tests ohne Ausfälle
Verfügbarkeit
Vergleich von Verteilungen
Verschleißhochrechnung
Vertrauensbereich
WeiBayes-Methode
Weibull-Verteilung
Wiederholungsausfälle
Wöhler
Zuverlässigkeitswachstum
Zuverlässigkeits-Indikator
Zuv-Indikator
Fehlerbaumanalyse
Fischgräten-Diagramm
Intensitätsbeziehungsmatrix
Ishikawa-Diagramm
Systemanalyse
Wirkungsdiagramm
Ursache-Wirkungs-Diagramm
Neu:
Belastungs-Testmatrix
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